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Elektronenmikroskopie

Für die Materialanalyse steht neben einem EDS-System zur energiedispersiven Elementanalyse auch eine EBSD-Einrichtung zur Bestimmung der lokalen Kristallorientierung zur Verfügung. In Fällen, die besonders hohe Auflösung verlangen, kann auch auf  ein analytisches Transmissionselektronenmikroskop zurückgegriffen werden. Die folgenden Abbildungen zeigen Beispiele, in denen die  Elektronenmikroskopie bei der Untersuchung von Schadenfällen eingesetzt wurde.

Abbildung 8: Rissbildung in einer thermisch und mechanisch hochbelasteten LKW-Bremsscheibe  und zugehöriges EDX-Spektrum
Abbildung 8: Rissbildung in einer thermisch und mechanisch hochbelasteten LKW-Bremsscheibe und zugehöriges EDX-Spektrum
Abbildung 9: Elementverteilungsbild zu einem  Querschliff durch einen Oberflächendefekt eines vernickelten Bauteils (Blau = Zink; Rot = Kupfer; Grün = Nickel; Gelb = Präparationsdeckschicht)
Abbildung 9: Elementverteilungsbild zu einem Querschliff durch einen Oberflächendefekt eines vernickelten Bauteils (Blau = Zink; Rot = Kupfer; Grün = Nickel; Gelb = Präparationsdeckschicht)
Abbildung 10: Im REM erkennbare Rissbildung an einer Al-Cu-Legierung, die auf die Bildung ausscheidungsfreier Korngrenzensäume (TEM-Aufnahme) durch fehlerhafte Wärmebehandlung zurückgeführt werden konnte
Abbildung 10: Im REM erkennbare Rissbildung an einer Al-Cu-Legierung, die auf die Bildung ausscheidungsfreier Korngrenzensäume (TEM-Aufnahme) durch fehlerhafte Wärmebehandlung zurückgeführt werden konnte
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